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반도체 웨이퍼 검사 수율의 핵심: NIT SWIR 카메라가 필요한 실질적인 이유


대한민국 반도체 제조 공정은 세계에서 가장 정밀한 품질 관리가 요구되는 곳입니다. 특히 실리콘 웨이퍼를 투과하여 내부 크랙이나 오염을 확인해야 하는 SWIR(단파적외선) 검사 단계에서는 장비의 단순 사양보다 실제 현장에서의 구동 데이터가 결과의 차이를 만듭니다.

프랑스 NIT(New Imaging Technologies)는 기성 센서를 조립하는 일반 제조사와 달리, InGaAs 센서를 직접 설계하고 내부 노이즈를 정밀하게 제어하는 원천 기술을 보유하고 있습니다. 이 글에서는 국내 제조 현장의 엄격한 품질 기준을 충족하여 진짜 검출 가능한 이미지를 만드는 NIT의 Line Scan 및 Area Scan 솔루션을 소개드리겠습니다.

 

1. [Line Scan] LiSa SWIR 2048 V2 : MTF 성능으로 증명하는 검출 정확도

 

엔지니어라면 누구나 경험해 보셨을 겁니다. 장비 속도를 높이려고 라인 레이트를 올리면 이미지에 노이즈가 끼고, 이를 잡으려 조명을 키우면 발열로 인해 다시 노이즈가 급증하는 악순환입니다. NIT LiSa 시리즈는 이 고리를 근본적으로 끊어냅니다.

웨이퍼 고속 검사에서 라인 레이트(Line Rate)보다 중요한 것은 판독 노이즈(Read-out Noise)와 광학 MTF입니다.

광량이 부족한 고속 스캔 환경에서 노이즈가 높고 해상력이 떨어지면 미세 결함 판독 자체가 불가능하기 때문입니다.

  

LiSa 2048-M-STE2 vs 타사(A사) 주요 사양 비교

비교 항목타사(A사)NIT LiSa SWIR 2048Why NIT LiSa SWIR?
해상도2048x1 (2K)2048x1 (2K)
판독 노이즈300e-< 90e-약 3.3배 낮은 노이즈로 검출력 극대화
Dead Pixel Cluster발생 가능0 (None)보간법 없는 순수 데이터로 가짜 결함 제거
Pixel Operability>98%99% 이상실제로 정상 동작하는 픽셀의 비율 99%
광학 MTF40lp/mm (12.5μm)62.5lp/mm (8μm)높은 공간 주파수에서도 선명한 Edge 표현
소비 전력11W< 4W저발열 설계로 열 노이즈 발생 원천 차단
무게/크기900g / 대형280g / 초소형가동부 모터 부하 감소 및 장비 슬림화

  • MTF 성능의 실무적 가치: 렌즈가 디테일을 얼마나 잘 표현하는지 나타내는 MTF 수치에서 NIT LiSa는 62.5lp/mm의 높은 공간 주파수에서도 뛰어난 대비(Contrast)를 유지합니다. 이는 12.5μm 픽셀을 사용하는 타사 대비 미세 결함의 경계면을 훨씬 날카롭게 잡아낼 수 있다는 뜻입니다.

  • 수율을 결정하는 ‘데드 픽셀 클러스터 제로’: 불량 픽셀이 뭉친 ‘클러스터’가 전혀 없어 주변 값을 빌려 쓰는 보간법(Interpolation)을 사용하지 않습니다. 가공되지 않은 순수 데이터를 전달하므로, 오판독(False Defect)으로 인한 불필요한 수율 저하를 막아줍니다.

 

 

2. [Area Scan] SenS SWIR 1920 : 광량 부족과 조명 비용의 딜레마 해결

 

반도체 후공정이나 고배율 검사 시 발생하는 광량 부족은 장비 구축 비용을 상승시키는 주범입니다.

NIT SenS 1920은 나이퀴스트 주파수 한계 내에서 최상의 이미지를 제공하며 조명 투자 비용을 획기적으로 줄여줍니다.

SenS 1920V-ST vs 타사(B사) 주요 사양 비교

비교 항목타사(B사) 5MPNIT SenS 1920V-STWhy NIT SenS SWIR?
해상도2592x2056 (5MP)1920x1080(2MP)
실질 감도(SNR)기준점타사 대비 약 35배 우세B사 대비 35배 높은 감도로 저조도 극복
픽셀 크기3.45μm8μm x 8μm대형 픽셀로 빛을 담는 능력 극대화
판독 노이즈Typ. 160e-Typ. 25e-약 6.4배 낮은 노이즈로 선명도 확보
다이내믹 레인지Typ. 50.2 dB최대 63dB밝기 차이가 큰 환경에서도 디테일 유지
냉각 시스템TEC 내장/ 비내장 옵션Single stage TEC 내장전제품 TEC 내장
TCO (총비용)고가 전용 조명 필수시스템 전체 비용 절감기존 광원 활용 가능 및 유지보수비 절감

  • 나이퀴스트 주파수와 픽셀의 관계: 센서가 패턴을 구분하려면 픽셀 분해능이 뒷받침되어야 합니다. 픽셀이 너무 작으면 회절 현상으로 이미지가 흐려질 수 있지만, NIT의 8μm 픽셀은 광학적 한계 내에서 렌즈의 해상력을 온전히 재현하여 선명한 이미지를 구현합니다.

  • 시스템 최적화 (TCO 절감): 타사 대비 35배 우수한 감도 덕분에 억지로 노출 시간을 늘리거나 고가의 고출력 조명을 추가할 필요가 없습니다. 이는 단순 카메라 가격을 넘어 전체 검사 장비의 제작 원가를 낮추는 결정적인 요인이 됩니다.

 

3. 현장 운용 안정성: 엔지니어가 NIT를 선호하는 숨은 이유

단순 사양상의 성능 수치보다 중요한 것은 생산 라인에서의 데이터 일관성입니다.

 

  • TEC(정밀 냉각) 기본 탑재: SWIR 센서는 열에 매우 민감하여 온도가 오르면 노이즈가 급격히 상승합니다. NIT는 전 라인업에 TEC를 기본 탑재하여 장시간 고속 구동 시에도 센서 과열을 방지하고 일정한 MTF 성능을 유지합니다.

  • 지능적인 속도 향상: 억지로 속도를 높여 조명을 밝게 하고 발열을 유도하는 기존 방식과 달리, 센서 감도 자체를 개선해 노출 시간을 줄였습니다. 노출 시간(Exposure Time)을 줄여 이미지 뭉개짐 없이 품질과 속도를 동시에 확보합니다.

  • 설계 편의성: 카메라 무게가 단 280g에 불과해 가동부 모터에 가해지는 부담이 적습니다. 4W 미만의 저전력 설계로 별도의 거대한 방열 구조가 필요 없어 장비 슬림화에 매우 유리합니다.


바이렉스는 NIT의 공식 파트너로서 센서 설계 단계부터 제어되는 독보적인 원천 기술을 국내 제조 현장에 공급하고 있습니다.

단순한 사양 수치를 넘어, MTF 차트와 실무 구동 데이터로 증명되는 확실한 광학적 근거가 필요하시다면 바이렉스를 통해 NIT의 솔루션을 직접 검토해 보시기 바랍니다.

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